各位电源界专家，各位前辈，各位老师，各位版主，各位大神，各位大侠，各位大牛：

扫地僧向你们致敬了！

看来大家都已经习惯于宁愿将时间花费在看手机做低头一族上，也罢，直奔主题说焦点——

交流电源一次侧的X电容与和它并联的放电电阻的时间常数乘积，这个放电时间按目前的普遍使用参数计算，100%都会引起激荡而出现高压尖峰冲击，这是电源电路以及整个电路系统各种并发症的主要诱因。

牵涉到EMI滤波器和压敏电阻方面的分析和辩论，大家可以保留自己的习惯性理解。但请记住：将放电时间控制在时间常数公式限定的范围内，是消除安全隐患，提升电源品质与可靠性的唯一办法。基本原理就在那里，你愿意看见，或者坚持无视，都永远在那里。

当然，懒得，或者不屑于经过实验去验证高阻值电阻会引发激荡尖峰电压的攻城狮们，可以继续认为目前的品质和这个标准没有任何关系的，无视这个基本的电子学原理，继续维持现状的结果是什么，就不多做讨论了，在附件文档里都有叙述。

追本溯源说安全，

灯下已黑一百年，

多少专家频问计，

不在天边在眼前。

重要的事至少得说三遍：1、实验！验证！2实验！验证！3实验！验证！

以下感慨还是保留给有余暇的朋友们

爱因斯坦的警世名言说过:"宇宙中唯有两件事物是无限的：宇宙的大小与人的愚蠢，我不能确定的是宇宙的大小。”

扫地僧进而认为：“人类真正的愚蠢，往往并不在于明显的智商余额不足，而在于高智商的人们常常挟带着智商优越感想当然的认为:任何智商正常的人,尤其象(IEC)以及( IEEE)中那些严谨、顶级的高智商专家,更决不会犯下原理极其简单的低级错误。”

在下一介扫地和尚，也许是眼尖，也许只是多看了一眼，也许只是多想了一会，顺着这个标准的缺陷向下挖，就看到了这个我认为是装下了整个电子行业的天坑——上帝之坑。

由于在下终究才疏学浅，肯定难免存在疏漏和不足。所以恳请各位阅读完附件文档之后，无论是否已经相信我在附件文档中描述的内容，都务必亲自做完那个验证实验，再来一起讨论这个大坑是不是上帝之坑，以及这个时间常数公式是不是一座不可或缺的保障基石，都请在此发表意见和感受吧。

扫地僧以为，当你不明确知道这个缺陷之前，尚可以心安理得，当你知道了，就再也无法忽视它——象一道拿不掉的必须存在的门槛。

所以，雁过留声，人过留名，路过，不应留遗憾，请留爪痕！

希望大家正在参与、见证和经历的，是一段值得回忆的意义非同寻常的历史。

谢谢大家！！！

解剖国际电工委员会（IEC）的错误安规标准.pdf

结束满世界灯下黑的状态。

没有人在意，是因为大家都在坑里吗？

如果认为灯下黑的缺陷无关紧要，会继续付出代价的。

点赞你的精神，顺便说一下，那个电容不足以造成功率因数大变化，而且不是电压反向综合掉电容的电核而造成功耗增加，要动态看电容。

减少电阻造成额外功耗，你测的电压600v还是400v是掉电速度的事，峰值与电阻无关，持续时间倒是和电阻成正比例，不信用高阻示波器探头看看。